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NanoMap-PS

NanoMap-PS 【探针接触式轮廓仪】台阶仪,全新美国进口台阶仪 性价比高
NanoMap-PS是一款专门为nm级薄膜测量研发的无需防震台即可测量的接触式台阶仪
AFM同款位移传感器,超高精度
压电陶瓷驱动扫描,无内源振动
自集成主动反馈式防震系统
*正无需额外辅助防震系统,实现高重复性纳米测量
纳米量级科学研究的必备产品
NanoMap-PS台阶仪可以应用在半导体,光伏/太阳能,光电子,化合物半导体,OLED,生物医药,PCB封装等领域的薄膜厚度,台阶高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),划痕深度,磨损深度,薄膜应力(曲定量率半径法)等定量测量方面。其高精度,高重复性,自动探索样品表面,自动测量深受广大客户欢迎。
测量表面可以覆盖多种材料表面:金属材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等,对于植物表面,生物材料,聚合物表面,光刻胶等“柔软表面”也可测量无须担心划伤或破坏。设备传感器精度高,稳定性好。热噪声是同类产品的。垂直分辨率可达0.1nm。可测表面,包括透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料,金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等;
 AEP的技术日新月异。欲了解新的产品性能参数,请与我们联系。

主要参数 :  
垂直分辨率            0.1nm
垂直量程        1000um
探针接触力            0.03mg-100mg
平台范围             直径150毫米(可选200毫米或更大)
高清图像               4级放大,彩色CCD
成像光源               双长寿命强光LED
金刚石探针            0.5um到25um可选
 


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